ENTRUST受託分析

受託分析、粉体解析のプロフェッショナルとして

マウンテックは総合的な分析・評価方法をご提案いたします。

弊社の分析センターでは「分析」のサポートが可能です。

分析

  • ・BET比表面積測定
  • ・画像解析式粒度分布測定
  • ・レーザー回折式粒度分布測定
  • ・走査型電子顕微鏡(SEM)撮影
  • ・水銀圧入式細孔分布測定
  • ・ガス置換法真密度測定

受託分析

粉体解析のプロフェッショナルとして、総合的な評価方法及び分析をご提案いたします。

弊社では受託分析業務を行っております。粉体物性分析に欠かせない「比表面積」「粒度分布」「画像解析」を総合的に測定いたします。粉体解析のプロフェッショナルとして、総合的な評価方法及び分析をご提案いたします。検体数の多少に関わらずご対応させていただきます。また、弊社製品購入検討のお客様向けに、社内にてデモンストレーション分析も行っております。
(Mac-Viewについては、社外デモンストレーションも行っております)
弊社営業部まで、お気軽にお問い合わせください。

測定機器/分析・評価項目を見る

BET比表面積測定

BET比表面積測定装置

Macsorb® HM-1200シリーズ(MOUNTECH)

  • 測定原理BET1点方/多点法
  • 測定範囲0.01~4000m2/g(サンプル特性による)
  • 対象試料粉体・成形体全般

画像解析式粒度分布測定

画像解析式粒度分布測定ソフトウェア

Macview・MacPIAS(MOUNTECH)

  • 解析項目面積・周囲長・長径・短径・最大長・最小長・Heywood径・周長円相当径・円形度係数・アスペクト比・Feret系・Martin系・Krummbein径・二軸平均径・二軸幾何平均径・二軸調和平均径/面積比/重心間距離分散度
  • 対象試料JpegやBitmap等の画像もしくは写真全般

レーザー回折式粒度分布測定

レーザー回折式粒度分布測定

Microtrac® MT3300EX (NIKKISO社)

  • 測定原理レーザー回折式
  • 測定範囲0.02~1.400μm(サンプル特性による) 湿式水溶媒
  • 対象試料粉体全般 (※水溶媒以外での測定についてはご相談下さい)

走査型電子顕微鏡(SEM)撮影

走査型電子顕微鏡

走査型電子顕微鏡 S-3400N (HITACHI社)

  • 最大分解能5nm (高真空、サンプル特性による)
  • 観察可能倍率×5~×300.000
  • 最大試料寸法200mm×80mm
  • 対象試料粉体・成形品全般

水銀圧入式細孔分布測定

水銀圧入式細孔分布測定

Pascal140、Pascal240 (Thermo社)

  • 測定原理水銀圧入法
  • 測定範囲細孔半径450~0.0018μm (サンプル特性による)
  • 最大圧力200MPa
  • 対象試料粉体・成形品全般

ガス置換法真密度測定

ガス置換法真密度測定

真密度測定装置 Macpycno® (MOUNTECH)

  • 測定原理ガス置換法
  • チャンバー容量20~60cc
  • 対象試料粉体・成形品全般

分析デモンストレーション

各種装置・ソフトウェアの分析サンプル検証や装置見学、立会による受託分析など、随時ご案内しております。
ご用命の際は、下記連絡先へ随時お問い合わせください。

【東京本社】TEL:03-3226-1251 E-mail:info@mountech.co,jp

受託分析の流れ

メール・FAX・TELによるお問い合わせ

見積の提出

受付

分析・測定実施

結果申告書送付

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