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社員コラム

2019.03.23(土)

社員コラム

画像解析式粒度分布測定ソフトウェア Mac-view Ver.5 新機能説明・運用例セミナー 開催

こんにちは、営業部の大原です。

昨年の粉体工業展2018 東京にて発表させていただきました、画像解析式粒度分布測定ソフトウェア Mac-view Ver,5の機能説明セミナーを、1月より開催しております。

昨今の粒度分布解析では、レーザー回折式だけでなく、顕微鏡で撮影された画像を解析し、一次粒子評価を行い、各社様のSDS等安全データの重要指標として、品質管理の標準検査項目化がなされております。

当社では、昨年改正されましたJIS Z 8827-1:2018「粒子径解析―画像解析法―第1部:静的画像解析法」に準拠し、 どなた様でも特別な知識は不要で、操作性が容易で気軽に粒子解析を行っていただけることを変わらぬコンセプトに、新たなMac-viewを様々な方に見て、体験していただけるようセミナーを開催することとしました。

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写真では、1月開催の様子でして、当社営業部 梅森、開発担当 廣澤の2名での新機能、運用例を説明している様を ご確認いただけるかと思います。

セミナーは、最大6名という少人数を上限とさせていただくことで、和やかに感じていただきながら、ご参加の方々のお悩み・ご質問を遠慮なくぶつけていただけるようにしております。

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各月2回の開催を行っておりまして、おかげさまで毎回大盛況となっております。

今回のコラムを見ていただいた方々でも、画像からの粒子や物体解析をお考えがございましたら、是非とも、macview@mountech.co.jpまでご連絡いただけますよう、御願い申し上げます。

営業部 大原
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