HOME > 受託加工・分析 > 受託分析

受託分析

粉体解析のプロフェッショナルとして、総合的な評価方法及び分析をご提案いたします。

株式会社マウンテックでは受託分析業務を行っております。粉体物性分析に欠かせない「比表面積」「粒度分布」「画像解析」を総合的に測定いたします。粉体解析のプロフェッショナルとして、総合的な評価方法及び分析をご提案いたします。検体数の多少に関わらずご対応させていただきます。
また、弊社製品購入検討のお客様向けに、社内にてデモンストレーション分析も行っております。
（Mac-Viewについては、社外デモンストレーションも行っております）
弊社営業部まで、お気軽にお問い合わせください。

受託分析の流れ

測定機器/分析・評価項目

BET比表面積測定

BET比表面積測定装置

機種	Macsorb^R HM-1200シリーズ(MOUNTECH)
測定原理	BET1点方/多点法
測定範囲	0.01～4000m²/g（サンプル特性による）
対象試料	粉体・成形体全般

画像解析式粒度分布測定

画像解析式粒度分布測定ソフトウェア

ソフト名	Macview ・ MacPIAS(MOUNTECH)
解析項目	面積・周囲長・長径・短径・最大長・最小長・Heywood径・周長円相当径・円形度係数・アスペクト比・Feret系・Martin系・Krummbein径・二軸平均径・二軸幾何平均径・二軸調和平均径/面積比/重心間距離分散度
対象試料	JpegやBitmap等の画像もしくは写真全般

レーザー回折式粒度分布測定

レーザー回折式粒度分布測定装置

機種	Microtrac^R MT3300EX（NIKKISO社）
ソフトウェア	Microtrac^R D.H.S.（MOUNTECH）
測定原理	レーザー回折式
測定範囲	0.02～1,400μm （サンプル特性による）湿式　水溶媒
対象試料	粉体全般※水以外の溶媒を御希望の方はご連絡下さい

走査型電子顕微鏡(SEM)撮影

電子顕微鏡

機種	走査型電子顕微鏡 S-3400N（HITACHI社）
最大分解能	5nm（高真空、サンプル特性による）
観察可能倍率	×５～×３00,000
最大試料寸法及び試料高さ	200mm×80mm
対象試料	粉体・成形体全般

水銀圧入式細孔分布測定

水銀圧入式細孔分布測定装置

機種	Pascalシリーズ(Thermo社)
測定原理	水銀圧入法
最大検出ポイント数	2500
対象試料	粉体・成形体全般

ガス置換式真密度測定

真密度測定装置

機種	Pycnomatic ATC(Thermo社)
測定原理	ガス置換法
測定チャンバー容量	4～110cc
対象試料	粉体・成形体全般

化学・ゴム・プラスチック・紙・パルプ・医薬品・健康食品・化粧品・食品・飼料・鉄鋼・金属・鉱業・セメント・
無機材料・セラミックス・機械・電気・電池　その他、ご相談下さい。