PRODUCT製品案内

様々な認識ツールを組み合わせ、あらゆる粒子の計測・解析を実現

SEMやTEM等で撮影した画像を読み込み、対象粒子を認識させることにより、自動的に粒度分布の算出や粒子形状の数値化を行います。
複雑な形状の粒子や凝集粒子などもペンタブレットを用いた手動解析ツールを使用することで、容易に粒子の認識が可能です。

Mac-View Version.5の新機能、及び、改良点

・粒子取得モードに「針状」を追加

・自動認識処理スピードの向上
・自動認識精度の向上
・JIS8827-1(2018)準拠

Mac-View Version.5の特長

■凝集粒子の1次粒子径の解析

従来困難であった凝集粒子の1次粒子径の評価が可能です。

■ナノ粒子の評価

スケール情報さえあれば粒子径問わず解析が可能です。

■多角的な解析・評価

粒度分布の自動計測かつ粒子形状(円形度やアスペクト比など)の解析が可能です。また、得られるデータが豊富であり、凝集粒子の1次粒子評価が可能です。

■操作性容易

特別な知識は不要で操作性が容易なため、作業者の習熟度を問いません。

■高額な設備投資は不要

画像(jpeg、bitmap)さえご用意頂けば、PCにソフトウェアをインストール後、直ぐに使用が可能です。

アプリケーション例

ナノ粒子、凝集粒子、造粒体、焼結体の断面、乳化粒径など

サポートソフトウェア

■粉体解析総合ソフトウェアMac-PIAS

Mac-PIASはあらゆる方法で計測された「粒度分布データ」の一括管理・解析が可能な新次元の総合粉体分析ソフトウェアです。

■ふるい分け試験データ解析ソフトウェア Macmesh

Macmeshはデータ量の多いふるい分け試験からの人為的誤差を排除し、効率よく作業を行う為のツールです。